T900 技術(shù)參數(shù)

1

儀器測(cè)試范圍：

Fe基材：鍍層Cr/Zn/Ni/Ag/Au zui多測(cè)試五層

Cu基材：鍍層Ag/Sn/Au/Ni等zui多測(cè)試五層

其他基材等

2

樣品種類：

金屬上鍍金屬鍍層

3

zui低檢出限：

鍍層分析：0.0035um--40um

4

測(cè)試時(shí)間：

30s-100s(軟件自動(dòng)調(diào)整)

5

攝像定位系統(tǒng)：

1200萬真像素高清定位系統(tǒng)；

6

X射線光管：

窗口材料：金屬鈹

使用壽命：大于30000小時(shí)

7

探測(cè)器：

美國(guó)Amptek*鍍層探測(cè)器

分辨率125ev±2

9

高壓電源：

0-90kev，0-2mA   zui大100W

10

高壓保護(hù)措施

過壓自保護(hù)，自恢復(fù)

11

集成工業(yè)計(jì)算機(jī)：

（電腦一體機(jī)）

4G內(nèi)存，1.6G雙核CPU

操作系統(tǒng)：正版Windows7   （無需外接電腦）

12

準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)：

光斑大小：φ0.1mm、0.5mm、4mm(軟件自動(dòng)選擇)

濾光系統(tǒng)：15種5組（軟件自動(dòng)選擇）

13

工作環(huán)境溫度：

溫度 :15-30℃  ；濕度：≤75% （不結(jié)露）

14

輸入電源：

AC 220V±15%，50Hz

15

儀器尺寸：

450mm*450mm*350mm

16

測(cè)試樣品腔尺寸：

300mm*300mm*260mm

17

輻射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)：

遠(yuǎn)高于國(guó)標(biāo)GB18871-2002 GBZ115-2002標(biāo)準(zhǔn)